您好,欢迎来到达州工业云! 平台首页 企业驾驶舱 帮助中心 企业登录 企业注册

HI,欢迎使用达州工业云平台!

账号必须大于2位

创新资源平台
服务平台首页>专利库>专利详情

AF/PSTM型纳米分辨多功能光学显微镜

  • 申请号: 申请公布号:
  • 申请日: 申请公布日: 2017-01-17
  • 申请(专利权)人:BI828402931 专利代理机构:
  • 分类号:

专利介绍

该仪器突破了光子扫描隧道显微镜(PSTM)存在假象和不能分解样品的光学与形貌图像两大难题,可在一次扫描过程中同时获得样品的两幅PSTM光学图像(折射率图像、透过率图像)和两幅原子力显微镜(AFM)图像(形貌图像和相位图像),AF/PSTM与常规光学显微镜有机组合,光学图像放大倍率可以从数十倍、数百倍、数千倍至数万倍分档可调,原子力形貌图像则可达到数十万倍。已完成样机和一些样品成像示范应用研究。